Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis II - 16-17 Ocotber 1996, Austin, Texas
- Författare
- (Ali Keshavarzi, Sharad Prasad, Hans-Dieter Harmann, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1996 | USA | 372 sidor. | 0-8194-2272-X |